ZEISS INSPECT: Optimiza la captura con la función "Medición en Movimiento"

Para capturar datos de superficies complejas, activa "Medición en Movimiento" en el modo de escaneo continuo. Esto permite mover la sonda o pieza de forma fluida mientras el sistema registra puntos en tiempo real, acelerando drásticamente la captura de geometrías libres sin sacrificar precisión.