Un algoritmo iterativo que calcula el patrón de elemento embebido o EEP
Se presenta un nuevo algoritmo iterativo para calcular la transformación del patrón de elemento embebido o EEP. Este método convierte un conjunto de patrones calculados para una carga uniforme en los puertos de la antena a otro conjunto correspondiente a una carga no uniforme. El proceso resulta especialmente útil para invertir los cálculos y deducir los valores de una carga arbitraria, partiendo del número mínimo de EEPs necesarios. Esta aproximación elimina la redundancia de otros métodos basados en matrices y conduce a un cálculo de fallos de impedancia numéricamente estable.
El método se valida con datos ruidosos
Dado que se prevé obtener los EEPs principalmente mediante medición, el algoritmo se prueba incluyendo varios componentes de ruido. Se evalúa su convergencia, lo que sugiere el nivel mínimo de relación señal/ruido y desvanecimiento que debe tener el equipo de medida. El estudio también indica cómo elegir de forma óptima la antena de referencia para minimizar el error en la estimación de los parámetros.
La técnica optimiza el diagnóstico de fallos
Al requerir solo el número mínimo de patrones, el enfoque iterativo simplifica el proceso de diagnóstico. Esto permite identificar fallos de impedancia en sistemas de antenas de forma más eficiente y robusta, incluso cuando los datos de entrada están contaminados con ruido propio de las mediciones prácticas en entornos reales.
Si tu algoritmo converge más lento que un administrador de sistemas actualizando servidores en viernes por la tarde, quizá debas revisar la antena de referencia.
