L'autopsia digitale: tomografia a raggi X per smascherare i chip contraffatti

Pubblicato il 15 January 2026 | Tradotto dallo spagnolo
Un render 3D di alta tecnologia che mostra la sezione trasversale di un chip elettronico, con i suoi strati interni, vie metalliche e bonding wires esposte, sovrapposta con un'interfaccia di software di analisi che confronta un design GDSII con il modello scansionato.

L'autopsia digitale: tomografia a raggi X per smascherare chip falsificati

In settori dove l'affidabilità è vitale, come l'aviazione o la medicina, il guasto inspiegabile di un componente può innescare una crisi. Per risolvere questi misteri, si dispiega un'indagine forense ad alta tecnologia il cui obiettivo principale è identificare falsificazioni elettroniche. La tecnica estrella in questo processo è la tomografia a raggi X, un metodo non distruttivo che agisce come uno scanner di autopsia digitale, rivelando i segreti più profondi di un circuito integrato senza toccarlo. 🔍

La scansione tridimensionale: dal sospetto al modello volumetrico

Il processo inizia con un'apparecchiatura specializzata, come un microscopio a raggi X ad alta risoluzione. Questo dispositivo non cattura una semplice immagine piana, ma centinaia di proiezioni bidimensionali mentre il componente ruota di 360 gradi. Da questo vasto insieme di dati, un software di ricostruzione genera un modello volumetrico 3D con una precisione micrometrica. Questo modello digitale, che può essere una nuvola di punti densa o una maglia poligonale, svela l'anatomia completa del chip: dagli strati di substrato di silicio e le intricate piste metalliche, fino ai delicati bonding wires e possibili difetti di fabbricazione nell'incapsulamento. 🧩

Elementi chiave rivelati dalla tomografia:
  • Architettura degli strati: Visualizzazione di tutti gli strati di metallo e dielettrico che compongono il circuito.
  • Interconnessioni e vie: Mappatura precisa delle connessioni elettriche tra i diversi livelli del chip.
  • Anomalie materiali: Rilevazione di vuoti, delaminazioni o inclusioni di materiali errati nell'incapsulamento epossidico.
La tomografia a raggi X trasforma il chip in un libro aperto, dove ogni pagina è uno strato e ogni connessione una parola che può essere letta senza distruggere il volume.

Analisi forense: il confronto con la verità originale

Ottenuto il modello 3D del dispositivo sospetto, inizia la fase di analisi comparativa forense. Utilizzando software di visualizzazione scientifica, gli esperti segmentano e isolano strutture specifiche per il loro esame. La prova del fuoco consiste nel confrontare questa scansione con il riferimento di un componente genuino o, in modo ottimale, con i file di design originale (GDSII). Strumenti come KLayout permettono di eseguire una sovrapposizione pixel per pixel tra il design teorico e la realtà fisica catturata. 🕵️‍♂️

Discrepanze che tradiscono una falsificazione:
  • Connessioni assenti o fantasma: Piste o vie che appaiono nel design ma non nel chip fisico, o viceversa.
  • Ponti o cortocircuiti indesiderati: Connessioni metalliche dove non dovrebbero esserci, frutto di un processo di fabbricazione scadente.
  • Geometria alterata: Transistor con dimensioni diverse o una disposizione delle porte logiche che non corrisponde all'architettura autentica.

La prova digitale inconfutabile

L'identificazione di queste discrepanze costituisce la prova forense inconfutabile di una falsificazione. Questo processo di autopsia digitale non solo conferma la frode, ma aiuta anche a tracciarne l'origine e a comprenderne le implicazioni di sicurezza. La prossima volta che un equipo critico fallisce, dietro l'indagine potrebbe esserci un ingegnere che analizza un modello 3D e scopre, con frustrazione e precisione, che dove doveva esserci un buffer c'è una porta NAND piazzata da un falsificatore. Questa tecnologia è la guardiana silenziosa dell'integrità nell'elettronica moderna. ⚖️